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Optical and electrical characterization of AgInS2 thin films ... |
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Lunes, 19 de Abril de 2010 04:45 |
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a Instituto de Ciencias Físicas-Universidad Nacional Autónoma de México, Apartado Postal 48-3, 62210, Cuernavaca, Morelos, México. b Instituto de Física, ...
linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/S0921510710001935 Leer más:
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